10.3969/j.issn.1002-8978.2006.04.006
数字系统结构性可测性设计
在高科技领域对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此数字系统的可测试性变得极为重要.要提高数字系统的可测性,解决这一问题的有效办法是从数字系统设计上着手,目前较好的办法是采用结构性可测性设计,而结构性可测性设计中电平灵敏扫描设计法使用较为普遍,也很实用.本文就电平灵敏扫描设计法进行探索.
数字系统、可测试、设计
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TN791(基本电子电路)
2006-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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