PXI模块仪器进入边界扫描测量

摘要：

@@ 针对集成电路单元器体数超过百万,功能越来越复杂的数字电路的测量,1980年后期计算机业界成立联合测试工作组(JTAG)研讨一种数字集成电路边界扫描技术,简化传统测试所需的大量激励和输出引脚,只规定4个边界扫描引脚:测试数据输入(TDI);测试时钟(TCK);测试模式选择(TMS);测试数据输出(TDO).四个边界扫描的寄存器和被测集成电路的重要边界扫描节点,预先布置在集成电路芯片内部,四个边界扫描引脚组成的测试进入端口(TAP)在集成电路则占有固定的位置.这种边界扫描技术在1990年获得认证成为IEEE1149.1标准,边界扫描和可测试性设计相结合的集成电路测试已普遍获得业界的认可.但是,集成电路的测试系统一直属于自动测试设备(ATE)供应商市场,即使测试测量仪器供应商亦难进入.

机标关键词：模块、测量仪器、边界扫描技术、数字集成电路、自动测试设备、引脚、可测试性设计、集成电路芯片、集成电路测试、供应商、数字电路、数据输入、数据输出、扫描节点、模式选择、联合测试、测试系统、寄存器、计算机、工作组

所属期刊栏目：25

分类号：TP3;TN4

在线出版日期：2006-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

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