10.3969/j.issn.1002-8978.2005.05.006
SOC中嵌入式核测试标准IEEE P1500综述与研究
集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展使得SOC得到越来越广泛的应用.随着系统设计规模的日益复杂,SOC的测试由于系统集成了不同的多个IP核变得愈加困难,已经逐渐变成SOC发展中的瓶颈.IEEE为解决SOC测试问题提出了嵌入式核测试标准P1500.文章详细介绍了P1500的测试架构,测试访问机制TAM及核测试描述语言CTL.最后描述了SOC测试集成中的常用模式.
SOC、嵌入式核、P1500、测试访问机制
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TN4(微电子学、集成电路(IC))
2005-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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