10.3969/j.issn.1002-8978.2001.z1.012
利用IDDQ技术测试CMOS器件
早在1960年,IC制造者利用IDDQ技术测试器件是否存在功耗过大的问题.现在,IDDQ成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试所不能发现的制造过程所产生的故障.IDDQ和功能测试相结合,可大大改善故障覆盖率,提高测试的有效性.
IDDQ测试、缺陷、故障、功能测试
TP3;TN7
2005-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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