IDDQ可测的动态PLA结构的进一步讨论

摘要：

本文提出了一种改进的IDDQ可测的动态CMOS PLA电路结构,并讨论了对该结构PLA运用IDDQ测试技术检测交叉点晶体管开路故障、桥接故障的问题.

关键词：IDDQ PLA、故障检测

分类号：TM93

在线出版日期：2005-03-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：25-26