IDDQ测试技术探讨

摘要：

本文介绍CMOS电路的静态电流LDDQ测试的有关概念,讨论IDDQ阀值的确定方法和几种测试电路的实现,并对IDDQ测试矢量的产生进行简要评述,指出在深亚微米条件下继续运用IDDQ测试方法的可行性和实现方法.

关键词：CMOS、静态电流、IDDQ、缺陷、测试

分类号：TN7;TN4

在线出版日期：2005-03-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：13-15,24