VXI总线测试系统在托卡马克上的应用

摘要：

本项研究利用先进的VXI总线技术为HL-1M托卡马克开发一套专用的VXI测试系统.系统已成功应用于等离子放电过程中破裂与锯齿的研究.该系统为构建其它城I测试系统提供了有益的借鉴.

关键词：VXI总线、DSP芯片、测试技术、破裂、锯齿

分类号：TP3;TP2

在线出版日期：2005-03-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：6-7,17