10.3969/j.issn.1671-7597.2011.04.040
数字集成电路测试系统的设计与实现
基于AT89C51单片机,设计出一种简易的数字集成电路测试系统.测试仪所采取的是多值参数相比较的方法,再利用单片机控制功能以及数学运算的功能,测试数字IC的功能,并同步完成每项直流参数的测试.各路显示测试项目参数以及测量过程中量程的切换等,由8279键盘进行控制实现.
数字集成电路、测试系统
NT
2011-06-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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10.3969/j.issn.1671-7597.2011.04.040
数字集成电路、测试系统
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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