10.3969/j.issn.1671-7597.2010.04.010
微电子器件电磁脉冲损伤机理及防护技术研究
针对多种对电磁脉冲敏感的微电子器件进行静电放电,方波电磁脉冲注入试验,通过器件的参数变化情况分析各种器件的电磁脉冲损伤机理,并对试验中的各种试验现象进行相应的解释,最后对多种敏感器件进行抗电磁脉冲防护基础研究,针对部分器件突出具体的防护措施,为微电子器件可靠性的提高提供参考意见.
微电子器件、电磁脉冲、损伤机理、防护
O441(电磁学、电动力学)
2010-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
12-14