10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2019.04.005
小弯曲半径下光纤宏弯损耗测试的拟合方法研究
光纤在小弯曲半径下,为提高测试准确性,新版IEC 60793-1-47 Ed.4.0 b 2017推荐了以浸入高折射率溶液中测试得到的本征宏弯损耗值为参考,根据特定波长测量点的精度比较,选择最佳的拟合方法为测试方法.选择G.657.A1光纤为研究案例,通过对小弯曲半径下宏弯的多种拟合方法进行比较和研究,确定以1550nm和1625nm波长下宏弯拟合值的准确度为参考依据,作为小弯曲半径下光纤宏弯损耗最佳拟合方法选择的思路.
宏弯损耗、小弯曲半径、本征值、加权最小二乘法
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TN818(无线电设备、电信设备)
2019-05-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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