10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2015.11.0018
大芯径能量光纤成分分析
利用扫描电子显微镜(SEM)对大芯径能量光纤表面与断面形貌进行表征得到不同生产工艺参数制备光纤的差异性,表明改进后生产工艺参数可明显提高包层与纤芯的界面结合力.同时,采用X射线光电子能谱分析(XPS)对光纤断面成分分析得到不同生产工艺参数各化学元素所处的化学环境,探究不同生产工艺参数对各化学元素所处的化学环境变化的影响.
光纤成分、扫描电子显微镜、X射线光电子能谱分析
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TN818(无线电设备、电信设备)
国家"863"计划2013AA031502
2015-12-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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