单模光纤宏弯损耗性能的试验研究

摘要：

研究了两种光纤(SMF28和1060XP)在波长1310nm处、弯曲半径5～ 15mm范围内的宏弯损耗性能.观察到了两种光纤宏弯损耗整体都随着弯曲半径增大而减小,并伴有振荡现象,其中1060XP光纤对宏弯损耗更敏感.用耦合模理论解释了WGM (whispering-gallery mode)对光纤宏弯损耗振荡的影响.测量了1060XP光纤涂覆层黑化后的宏弯损耗,结果表明:将光纤涂覆层烤黑能够减轻光纤宏弯损耗振荡.

关键词：单模光纤、宏弯损耗、WGM、涂敷层

所属期刊栏目：38

分类号：TN818;TN253(无线电设备、电信设备)

资助基金：国家自然科学基金61067003;江西省自然科学基金20132BAB206024;江西省教育厅科技项目GJJ13064;高等学校博士学科点博导基金20123601110011;高等学校博士点新教师基金20103601120005

在线出版日期：2014-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1-3