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10.3969/j.issn.1002-5561.2013.02.013

一种基于OTDR技术的插回损测试仪

引用
与传统连续波(CW)测量方法相比,基于OTDR技术的回波损耗测试方法,能够准确定位反射事件,测量结果直观、准确,在一定条件下还能够一次测量多个器件以及实现免缠绕测试.介绍了基于OTDR技术的回波损耗测量原理,设计了一种基于OTDR技术的回波损耗测量和插入损耗测量一体化测试仪.

OTDR技术、回波损耗测量、插入损耗测量、插回损仪

37

TN29(光电子技术、激光技术)

2013-08-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

41-43

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光通信技术

1002-5561

45-1160/TN

37

2013,37(2)

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