基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统

摘要：

针对传统光纤元件插回损耗测试方法效率低、易出错的缺点,基于GPIB技术开发了一种新型的光插回损耗自动测试系统.该系统通过GPIB总线实现计算机与多台测试仪器相互通信,利用VB编写测控软件实现光插回损耗的自动测试.所采集数据利用Access数据库统一管理.应用结果表明,该系统运行稳定,操作简便,具有一定的实用性和推广价值.

关键词：GPIB技术、光插回损耗、自动测试系统、数据库

所属期刊栏目：34

分类号：TN929.11

在线出版日期：2011-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1-3