空位缺陷对PBG型THz光子晶体光纤特性的影响

摘要：

研究空位缺陷对PBG型THz光子晶体光纤(PBG-TPCF)的带隙和泄漏损耗两种特性的影响.计算表明空位缺陷都使PBG-TPCF的带隙宽度减少并使中心频率不同程度地上移;最低损耗点由于带隙的移动作相应的改变,并且泄露损耗变大.通过分析空位缺陷对带隙和泄露损耗的影响,得出在包层比较多的情况下,空位缺陷离PBG-TPCF纤芯越远对PBG-TPCF的影响越小.仿真结果表明空位缺陷在PBG-TPCF包层的第5层时及外围层时对PBG-TPCF的影响将很小以至于可以忽略.

关键词：空位缺陷、PBG型THz光子晶体光纤、带隙、泄露损耗

所属期刊栏目：34

分类号：TN253(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金607070061;江苏省高校自然科学研究项目09KJB510009

在线出版日期：2010-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：24-26