胶凝材料纳米分析的最新进展(英文)
大多数的岩土材料,像土、石材和许多建筑材料,都存在着复杂的多层次孔隙结构,其孔隙尺寸一般从纳米级到宏观尺度不等。要优化这些材料的性能,一个关键因素就是如何表征和控制其多尺度的孔隙结构。以前的技术无法研究长度范围在0.1nm到几百nm之间的三维空间结构,而采用高分辨率的软X射线显微镜可以弥补这个缺陷,并集中展示其在胶凝材料研究中的应用。
X光显微术、多孔岩土材料、水泥、图像分析
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TQ174
2012-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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