背散射电子图像分析在水泥基材料微观结构研究中的应用
自上世纪80年代,国外研究者成功将背散射电子图像分析(backscanered electron imaging and image analysis,BSE.IA)技术应用于水泥基材料微观结构的研究中,在微观定性研究及物相定量分析方面,都获得不同于其他研究方法的研究结果。介绍了BSE-IA技术在水泥基材料研究中的应用原理及国外应用现状,并与其他研究方法比较,分析了用此研究方法定性、定量研究水泥浆体中不同物相的优缺点,表明该技术在水泥基材料研究中具有独特的优势。
背散射电予图像、微观结构、物相分析、水泥
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TQ174
国家"973"计划2009cB623104
2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
1659-1665