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10.3321/j.issn:0454-5648.2007.02.024

硒化锌晶体光学加工中的宏观应力

引用
采用化学-机械加工工艺加工ZnSe晶体器件.用X射线衍射分析技术测定晶体器件在加工过程中宏观应力的变化.结果表明:加工后器件的损伤层厚度接近为零.抛光后的器件和加工前的器件的宏观应力相近,表明用该工艺加工对器件的宏观应力影响小,这对器件的应用非常有利.加工实验表明:选用的工艺参数和抛光液对加工ZnSe晶体器件是成功的.

硒化锌晶体、宏观应力、光学加工、X射线衍射分析

35

O736(晶体物理)

兵器工业总公司资助项目GDZX2003

2007-04-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

247-250

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0454-5648

11-2310/TQ

35

2007,35(2)

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