10.3321/j.issn:0454-5648.2004.05.022
纳米二氧化钛粉体粒径表征研究
采用水解沉淀法制备了纳米二氧化钛粉体,对其XRD衍射谱用Voigt函数拟合精修,得到精确的(101)和(200)面晶粒度,将结果与SEM和TEM测定的粒径进行比较,结果表明:3种方法所测值差异较大,3种粒径相比,XRD测定的粒径值小但变化较大,其平均值与TEM测定值比较接近;SEM测定的粒径大但相对比较稳定,平均增加约53%;TEM测定的粒径比较稳定.产生上述结果的主要原因:一方面是分析测试手段如XRD的精修参数和计算模式选择不同所致,另一方面与粉体样品的制备过程,以及纳米颗粒的结构特征有关.
纳米二氧化钛、纳米粉体、粒径表征、晶粒度
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TB178(工程基础科学)
国家自然科学基金20171039
2004-07-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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