10.3321/j.issn:0454-5648.2000.01.011
微波烧结钛酸钡陶瓷与常规烧结钛酸钡陶瓷界面偏析研究
采用常规9X-4-13型马弗炉和TE103型单模腔微波炉烧结钛酸钡陶瓷,并用透射电镜(TEM)和能谱(EDAX)相结合的分析方法分别对其晶界元素分布进行研究.结果表明,杂质离子在常规烧结和微波烧结钛酸钡陶瓷晶界上的行为特性有差别,Nb5+,Cr3+在前者晶界上有明显偏析现象,而在后者基本上不存在偏析现象.认为杂质离子在晶界上偏析与晶界结构、晶界电势等因素有关.
微波烧结、偏析、钛酸钡陶瓷
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TQ174
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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