应用X-射线能谱微区分析法测定核桃种皮与子叶的元素含量

摘要：

应用X-射线能谱微区分析法测定核桃种皮与子叶的元素含量.结果显示:核桃种子不同组织中共发现Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe九种元素.不同组织各元素分布含量有差异.子叶内层组织中S、K、P丰富,而子叶外层组织中K、Ca含量较丰富.各组织中K含量均较高.

关键词：核桃、X-射线能谱微区分析、元素含量

所属期刊栏目：20

分类号：S664.1(果树园艺)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：76-77