滤片对能量色散X射线荧光光谱方法测定轻基体中痕量重金属Cd元素的作用

摘要：

用能量色散X射线荧光光谱方法检测轻基体中重金属元素时,提高峰背比是一大难题,而设置滤片是解决这个难题的一种办法.该研究先对初级滤片(分为一类初级滤片和二类初级滤片)和次级滤片(平衡滤片)的选择(材料元素及厚度)作了理论分析,然后通过MC软件进行蒙特卡罗进行分别模拟,比较设置前后的峰背比,验证理论分析的准确性.一类初级滤片模拟设置了Fe和Cu两种材料,结果表明设置后的峰背比较设置前的1.36均提高了两倍左右;二类初级滤片模拟设置了T e和Ba两种材料,设置后的最大峰背比分别为14.88和13.58,均比比设置前提高了10倍左右;平衡滤片则是先后设置Rh和Ru两个滤片,两者计数相减即得到平衡通带,结果可见通带内特征峰透过率为83.1％,而通带外的背景值降低到几乎为0,使得峰背比大大增加了.经过比较,三种滤片的设置都有效地提高了峰背比,其中平衡滤片提高的倍数最大,二类初级滤片次之,最小为一类初级滤片.理论上三种滤片是可以同时设置以更大地提高峰背比的,但由于轻基体中Cd元素含量很小,而低计数的结果会大大增加放射性统计涨落误差,因此,在实际应用中,还应考虑到这一点,以决定是否进行两两同时设置或者三者同时设置.研究创新之处在于除了传统的两种滤片外,还提出了二类初级滤片的运用.

关键词：重金属元素、能量色散X射线荧光光谱法、初级滤片、次级滤片

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分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：国家重点研发计划重点专项课题2017YFC0602105;国家自然科学基金项目41574128,41504139;四川省科技计划项目2016JY0208;四川省教育厅自然科学重点项目15ZA0070,15ZB0075

在线出版日期：2018-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1917-1921