高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪测定地质样品中稀土元素

摘要：

由于稀土元素本身的特点及以往X射线荧光光谱仪的局限性,用XRF方法快速测定地质样品中稀土元素一直是个难点.探讨了有效解决该问题的途径.采用粉末压片制样,应用Epsilon 5型高能偏振X射线荧光光谱仪(HE-P-EDXRF)建立了土壤、岩石和水系沉积物中稀土元素La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd, Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu和Y的EDXRF分析方法,对分析线,二次靶,基体校正方法及校准曲线的回归等进行了探讨.结果表明,La,Ce,Pr,Nd和Y的校准曲线的相关系数 r>0.99,其余元素的相关系数也均在0.969以上;Pr 的检出限为4.09,其余元素的检出限在0.03 ~ 2.13之间;对岩石标准物质GBW07105连续测定10次,RSD在0.81% ~8.35%;检验样本的EDXRF测定值与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定值平均相对偏差在4.4% ~15.4% 之间,除Gd外其余元素的平均相对偏差均在15% 以内,其中较好的为Y(4.4%),La(8.3%),Ce(8.3%),Nd(8.6%).综上可知,本方法操作简单,能够实现大批量的岩石、土壤、水系沉积物中稀土元素的快速准确测定.

关键词：稀土元素、高能偏振X射线荧光光谱仪、地质样品、快速检测

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分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：中国地质调查局地质调查工作项目12120115013501;国家重大科学仪器开发专项2011Y17006505

在线出版日期：2018-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：582-589