中阶梯光栅衍射效率及杂散光检测系统设计

摘要：

中阶梯光栅具有刻线密度低、闪耀角度大、衍射级次高、光谱范围宽、色散率大、光谱分辨率高等一系列突出优点,近年来由于其优良的性能而倍受青睐.作为评价中阶梯光栅质量的衍射效率和杂散光系数直接体现了中阶梯光栅的光学性能,能够准确地进行中阶梯光栅衍射效率和杂散光系数的测量是光栅应用的前提.鉴于此,基于中阶梯光栅的衍射理论创造性地提出用一套系统对中阶梯光栅的衍射效率和杂散光系数进行检测,该系统引入双轨结构,具有结构简单新颖、一机多能等优点.通过理论分析和计算,确定了检测系统的结构参数,设计结果表明:该检测系统可用于测量190～1 100 nm光谱范围内的中阶梯光栅绝对衍射效率,同时也可用于测量200～800 nm光谱范围内的中阶梯光栅杂散光系数,实现了将衍射效率测量和杂散光测量集于一体的设计思想.

关键词：中阶梯光栅、衍射效率、杂散光、光学设计

所属期刊栏目：37

分类号：TH741(仪器、仪表)

资助基金：国家重大科学仪器设备开发专项项目2014YQ12035102

在线出版日期：2017-08-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：2603-2609