能量色散X射线荧光分析中改进型基本参数法研究

摘要：

能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法，但该方法检出限和分析精度，受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法，但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分，而在实际使用时，尤其在分析低含量样品时，净峰面积计算、基体中“暗物质”影响了测量精度，制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足，将谱线解析方法与基本参数法融合，将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中，采用分析样品特征X射线分支比的理论系数，对重叠峰进行剥离，解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题；在计算过程中，对“暗物质”进行均一化处理。通过对标准物质测量分析，结果表明对于Ni ，Cu ，Zn三个元素改进型基本参数法（改进型FP）测量结果准确度高于影响系数法。

关键词：基本参数法、能量色散X射线荧光分析、谱线解析

分类号：TL99

资助基金：国家863计划项目2012AA061803;国家自然科学基金项目41204134;国家重大科研装备研制项目ZDYZ2012-1-07子项目资助

在线出版日期：2015-07-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2034-2037