蒙特卡罗模拟元素特征X射线注量的展宽技术

摘要：

蒙特卡罗模拟技术可以有效提高核辐射探测分析效率、降低分析成本，在促进X荧光分析技术发展过程中也发挥了重要作用。在应用蒙特卡罗模拟能量色散X荧光分析中，为使蒙特卡罗模拟元素特征X射线注量谱与实验能谱之间的物理差异更小，提出了一种模拟注量展宽算法。首先依据离散统计物理理论，建立了Si-PIN半导体探测器对X射线的响应函数模型，并利用加权非线性最小二乘法拟合得到各系数，再对系数进行归一化处理，得到归一化后的响应函数R（E，E′）。然后利用R（E，E′）对模拟注量进行展宽转换，得到脉冲幅度谱（pulse height spectrum，PHS），使模拟谱更趋近于实验谱，这样就可以通过蒙特卡罗模拟得到与实测能谱一致性较高的模拟能谱。研究中最后利用建立的探测器响应函数模型对Ti，V，Cr，Mn， Fe，Ni，Cu，Zn，As，Sn元素K系全能峰拟合χ2r 值在1．04～1．18范围内，对铜合金样品中六种元素特征X射线模拟注量转换结果与实验值一致性较好，并实现了对多元素混合样品复杂重迭谱的有效模拟和展宽。

关键词：特征X射线、蒙特卡罗模拟、探测器响应函数、展宽算法

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：国家杰出青年科学基金项目41025015;国家自然科学基金项目40974065

在线出版日期：2014-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1693-1697