近地高光谱成像技术对黑豆品种无损鉴别
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3964/j.issn.1000-0593(2014)03-0746-05

近地高光谱成像技术对黑豆品种无损鉴别

引用
基于近地高光谱成像技术结合化学计量学方法,实现了黑豆品种的鉴别。实验以三种不同颜色豆芯的黑豆为研究对象,采用高光谱成像系统采集380~1030 nm波段范围的高光谱图像,提取高光谱图像中的样本感兴趣区域平均光谱信息作为样本的光谱进行分析,建立黑豆品种的判别分析模型。共采集180个黑豆样本的180条平均光谱曲线。剔除明显噪声部分之后以440~943 nm范围光谱为黑豆样本的光谱,采用多元散射校正(multiplicative scatter correction ,MSC)对光谱曲线进行预处理。分别以全部光谱数据、主成分分析(principal component analysis ,PCA)提取的光谱特征信息、小波分析(wavelet transform ,WT)提取的光谱特征信息建立了偏最小二乘判别分析法(partial least squares discriminant analysis ,PLS-DA ),簇类独立模式识别法(soft independent modeling of class analogy ,SIMCA),最邻近节点算法(K-nearest neighbor algo-rithm ,KNN),支持向量机(support vector machine ,SVM),极限学习机(extreme learning machine ,ELM)等判别分析模型。以全谱的判别分析模型中,ELM 模型效果最优;以PCA提取的光谱特征信息建立的模型中,ELM模型也取得了最优的效果;以WT 提取的光谱特征信息建立的模型中,ELM 模型结识别效果最好,建模集和预测集识别正确率达到100%。在所有的判别分析模型中,W T-EL M模型取得了最优的识别效果。实验结果表明以高光谱成像技术对黑豆品种进行无损鉴别是可行的,且WT 用于提取光谱特征信息以及ELM模型用于判别黑豆品种能取得较好的效果。

黑豆、高光谱成像、判别分析模型

O433.4;S529(光学)

国家高技术研究发展计划863计划项目2011AA100705;中央高校基本科研业务费专项资金项目资助

2014-03-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

746-750

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光谱学与光谱分析

1000-0593

11-2200/O4

2014,(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn