10.3964/j.issn.1000-0593(2012)11-3044-05
光谱校正对溶解有机物三维荧光光谱特征影响
在三维荧光光谱(EEM)测定中,由仪器直接记录的光谱(称为未校正光谱)由于受荧光光度计光源灯或探测器等波长特性的影响,并不是荧光物质本身的真实光谱,研究了光谱校正对腐殖酸和色氨酸EEM光谱特征以及传统寻峰法和新兴FRI分析法结果的影响,结果表明:校正后,Ex/Em=220~450/250~500nm范围内荧光强度降低,Em<250 nm范围内荧光强度增大,腐殖酸荧光峰明显“蓝移”.基于寻峰法的荧光指数(FI)和腐殖化指数(HIX)明显减小,自生源指数(BIX)略增;基于FRI分析法的反映各区域标准体积百分比PⅠ,n,PⅡ,n和PⅢ,n明显上升,而PⅣ,n和Pv,n显著下降.因此,进行光谱校正是获得真实光谱谱图及光谱特征不可或缺的一部分.
溶解性有机物、三维荧光光谱、光谱校正、荧光指数、FRI分析法
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X830.2(环境监测)
国家自然科学基金项目40872151
2013-01-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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