10.3964/j.issn.1000-0593(2012)02-0289-04
基于8~14μm带宽的谱带发射率的研究
针对红外测量中常用的8~14 μm的带宽,依据前人的实验结果,计算了两种材料的谱带发射率,并且通过简单的实验,测量了几种材料的谱带发射率.实验和计算结果表明:谱带发射率与温度之间存在着某种函数关系.对于常用的带通辐射测温仪和热像仪,如果测量对象为非灰体,仍然把发射率值看作是一个常数,将会导致较大的测量误差.初步研究表明,对于非金属和真空中的金属,谱带发射率与温度近似存在线性关系.利用拟合出的谱带发射率与温度的函数关系式,可以作为辐射测温仪和热像仪的修正,不仅简化了计算,而且能够提高其测量精度.
光谱发射率、谱带发射率、辐射测温计、多项式拟合
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O433.1(光学)
国家自然科学基金项目60977063;贵州省教育厅自然科学基金重点项目2010089
2012-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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289-292