基于X射线光谱测定法分析氚深度的模拟研究

摘要：

氚是一种重要的聚变材料,在军事和民用方面都有广泛的用途,氚在薄膜靶中的浓度和深度研究是一项重要的课题.文章建立了氚β射线诱发X射线光谱的模拟方法,分析了氚β射线诱发X射线光谱与氚的浓度和深度分布的关系,研究表明氚在薄膜靶中浓度和深度分布与测定光谱存在对应关系,这为利用X光谱反解氚含最和深度分布奠定了基础.

关键词：氚深度分布、氚含量、轫致辐射、数值模拟

所属期刊栏目：31

分类号：O433.4(光学)

资助基金：中国工程物理研究院科学技术发展基金项目2009B0301026

在线出版日期：2011-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：831-834