近红外光谱法分析慈竹物理力学性质的研究

摘要：

采用近红外光谱法对慈竹密度、抗弯强度和顺纹抗拉强度进行快速预测.利用反向区间偏最小二乘法(BiPIS)优选光谱区间,建立原始光谱和不同预处理(一阶微分、二阶微分、卷积平滑和归一化处理)光谱分析模型,同时应用偏最小二乘法(PLS)在全谱范围350～2 500 nm建立各光谱分析模唰,并对所建模型进行比较分析.结果表明:同全谱PLS模型相比,BiPLS能够有效选择光谱区间.并且提高模型预测精度,其中,密度、抗弯强度和顺纹抗拉强度分别选用归一化处理光谱、二阶微分光谱和一阶微分光谱,BiPLS将全光谱分别划分为30,20和30个区间时,建立的密度、抗弯强度和顺纹抗拉强度BiPLS模型预测效果最好,预测模型相关系数(R)分别为0.85,0.88和0.88.预测标准差(RMSEP)分别为0.052 4,0.018 5和0.029 2,表明近红外光谱法可以实现慈竹物理力学性质的预测.

关键词：近红外光谱法、反向区间偏最小二乘法、慈竹、物理力学性质

所属期刊栏目：31

分类号：O369

资助基金：国家"十一五"科技支撑计划课题2006BAD19B0704

在线出版日期：2011-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：647-651