基于不同泵浦波形的荧光寿命测量

摘要：

该文从理论上分析了不同泵浦波形下的荧光衰减规律,提出了一种在不同泵浦波形下测量荧光寿命的新方法--双脉冲探测法,即利用探测泵浦脉冲与荧光衰减脉冲的方法测量荧光寿命.通过对样品钕玻璃及Cr∶ZnSe晶体的荧光寿命测量表明:利用该方法在不同泵浦波形下能够实现可见及近红外到中红外激光介质的荧光寿命测量.因此,利用该测量方法能够方便、有效的避免通过解卷积求样品荧光寿命的繁琐过程,对测量激光介质在不同泵浦波形下的荧光寿命具有参考价值.

关键词：泵浦波形、荧光寿命、双脉冲探测、激光介质

所属期刊栏目：30

分类号：O482.3;TN247(固体物理学)

资助基金：国家自然科学基金重大项目60890200,10876022;固体激光国家级重点实验室基金

在线出版日期：2011-02-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：3013-3017