发光二极管光谱测量中的杂散光与带宽校正

摘要：

光谱仪的杂散光和带宽是LED光谱测量中比较重要的两个误差影响因素,为了得到更精确的测量结果,必须对杂散光和带宽影响进行校正.用He-Ne激光测出光谱仪的线扩展函数,在假设光谱仪是线性波长不变系统的前提下,构建杂散光分布函数矩阵,转化为杂散光校正矩阵,从而对所测信号进行杂散光校正;在三个波段内分别由光谱仪带宽函数计算带宽校正系数,将被测波长点及其邻近带宽波长点上的测量结果进行加权平均,从而得到带宽校正结果.将两种校正方法应用在一台多通道快速光谱仪上,测量各种颜色的LED,实验结果表明能有效地校正杂散光和带宽影响,色品坐标最大校正了(-0.003,0.007).且该方法降低了应用成本,在保证精度的情况下简化了计算量,使得校正更易于实施.

关键词：发光二极管、光谱测最、杂散光、带宽、校正

所属期刊栏目：29

分类号：O433.1(光学)

资助基金：国家"863"高技术研究发展专项经费项目2006AA03A173

在线出版日期：2009-07-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1493-1497