ICP-AES 分析超导粉中杂质元素的干扰系数矩阵校正法

摘要：

利用ICP-AES法测定了铋系超导前驱粉(BSCCO)中Fe, Cr, Ni, Si, Al和Ba等微量杂质元素,优化了仪器测定参数并研究了酸的种类及浓度对测定结果的影响.系统研究了BSCCO基体元素Bi, Sr, Pb, Ca和Cu对微量杂质元素测定的干扰,分别测定了每个基体元素对测定元素的校正系数并组成交互干扰校正矩阵,采用全选主元高斯消去法计算出基体元素产生的背景等效浓度,再计算出样品的真实浓度.用此方法对合成标样中的上述微量杂质元素进行了测定,分析结果的回收率99.5%～100.5%,测定了实际样品中的杂质元素,并与ICP-MS法进行了对比,二者结果一致.

关键词：干扰系数矩阵、ICP-AES、杂质元素、铋系超导前驱粉

所属期刊栏目：28

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金："十一五""863"项目2006AA032236

在线出版日期：2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1390-1393