离子淌度谱和SIMPLISMA用于痕量有机化合物的检测
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1000-0593.2005.09.041

离子淌度谱和SIMPLISMA用于痕量有机化合物的检测

引用
离子淌度谱(IMS)是检测痕量挥发性有机化合物的灵敏方法.SIMPLISMA(simple-to use-interactive self modeling-mixture analysis)是一种自模型曲线分辨方法.文章将SIMPLISMA用于DMMP,DIMP和DEMP的IMS检测和数据的处理.这些化合物的IMS谱数据经SIMPLISMA处理后,可以提取出IMS的谱特征,并去除大部分噪声的影响.经SIMPLISMA提取的IMS谱可被用于其他计算,如曲线分辨和模式识别等.

离子淌度谱、SIMPLISMA、化学计量学、数据处理、甲基膦酸酯

25

O657.3(分析化学)

国家留学基金委留学基金

2005-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1530-1533

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光谱学与光谱分析

1000-0593

11-2200/O4

25

2005,25(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn