行波管用钨铼合金中高含量铼的X射线荧光光谱测定

摘要：

根据行波管用的关键材料-钨铼合金中高含量铼测定的需求, 研究了用X射线荧光(XRF)光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响, 从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因. 理论和实验结果均表明: 直接用Re Lα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性. 本法具有快速准确的特点, 分析结果与化学方法一致, 在生产控制中应用效果显著.

关键词：X射线荧光光谱、基体效应、钨铼合金、行波管

所属期刊栏目：25

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：国防科工委共性项目

在线出版日期：2005-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：460-462