金属表面硅烷试剂膜结构及性能表征方法

摘要：

综述了用硅烷试剂处理金属表面而形成的保护膜性能及结构的表面分析方法. 详述了X射线光电子能谱、红外光谱、次级离子质谱、椭圆光谱、电化学阻抗谱等方法在硅烷处理金属表面过程中的应用, 通过对膜形成的机制、膜的键合方式、膜结构、膜厚度以及膜的耐蚀性等方面的研究分析, 探讨了它们对膜性能的影响, 并用各种不同的参数表征了金属基材上硅烷膜的特性. 同时指出了所述各种表面分析方法用于金属表面硅烷膜分析和检测的优点和不足之处, 讨论了将各种表面分析技术联用起来以期得到更多有用的化学信息, 以此可以指导硅烷化金属表面处理工艺过程. 此外还提到了其他可用于金属表面硅烷膜性能的表征的分析技术, 展望了金属表面硅烷膜分析的研究.

关键词：金属表面、硅烷试剂膜、表面分析

所属期刊栏目：24

分类号：O652.2(分析化学)

资助基金：重庆市科委应用基础研究项目2000-6041

在线出版日期：2004-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：495-498