10.3321/j.issn:1000-0593.2000.03.048
在硅酸盐矿物,玻璃和熔体中Si和Al的配位与局部结构:K-边X射线吸收光谱研究
本文采用同步辐射的Si K-边X-射线吸收近边结构(XANES)谱研究了Si在SiO2-P2O5和Na2O-SiO2-P2O5的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位,以及Si的配位几何随玻璃中P2O5含量而变化:同步辐射的Al K-边XANES谱研究了Al在铝硅酸盐成分为NaAlSi2O6-NaAlSi3O8的玻璃和熔体中的配位和局部结构,并提供了直接的实验证据来证明该成分的玻璃体系中由于压力的变化所诱导Al配位的变化.
硅酸盐玻璃和熔体、Si和Al的配位、X-射线吸收光谱
20
O6(化学)
国家自然科学基金49572094
2007-01-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
402-405