基于全反射原理的X荧光分析技术及其应用研究

摘要：

本文简单介绍了一种目前我国应用很少但很有竞争力的新兴元素分析方法--全反射X荧光(TXRF)分析技术,我们自行研制的分析装置的最低检测限,对于Cu靶、Mo靶达到pg级,其相对检测限达到ng/g.作为应用范例,还叙述了一种海洋软体动物"牙齿"的定量分析,并给出了相应的X荧光谱图和分析结果.

关键词：全反射X荧光分析、pg级检测限、多元素同时分析

所属期刊栏目：19

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：430-433