10.3321/j.issn:1000-0593.1999.02.009
聚丁二炔Langmuir-Blodgett薄膜的光声谱研究(Ⅰ)结构表征与光声吸收系数
本文在用X-射线小角衍射对聚合与转载先后次序不同的PDA LB膜进行结构表征的基础上,不同厚度PDA LB膜的光声斩波频率效应说明,随着PDA LB膜厚度增加,LB膜的热学性质逐渐明显.此外,还探讨了如何从PDA LB膜的光声谱求得光声吸收系数问题,本文的研究结果表明,光声谱技术是研究LB膜热学特性的有效手段.
聚丁二炔、光声谱、Langmuir-Blodgett 薄膜
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O4(物理学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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