催化剂原料高岭土的XRF分析

摘要：

本文拟定了X-射线荧光分析催化剂原料高岭土中Al2O3、SiO2和杂质成分的方法.根据精矿中分析元素含量范围和基体效应的估计,分别合成了Al2O3-SiO2二元系和含所有杂质成分的两套标准系列,测定烧失量后的粉末样品.用本文改进的少量粉末样品制备法压片,各组分含量由校正曲线直接求取而不需基体校正.与熔片法相比,本法不存在熔剂杂质和稀释比对高岭土精矿中微量成分测定的影响.

关键词：X-射线荧光分析、高岭土、样品制备

所属期刊栏目：18

分类号：TQ17;TQ62

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：739-741