一种新的嵌入式系统存储器测试算法及应用

摘要：

针对目前存储器测试算法的故障覆盖率和测试效率不能兼顾的情况,提出一种新的棋盘走步测试算法.通过对存储单元的数据构造棋盘图形,同时对地址进行升序和降序的走步,实现了快速有效的测试.结合MPC8548E CPU的硬件系统,完成了测试算法的验证.实验结果表明,该算法简单高效,适合嵌入式系统对存储器的测试应用.

关键词：嵌入式系统、存储器测试、故障覆盖率

所属期刊栏目：33

分类号：TP333(计算技术、计算机技术)

资助基金：广西自然科学基金桂科自0991241

在线出版日期：2013-11-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：228-230,235