基于IEEE 1500并行测试技术的研究

摘要：

针对现代IP核测试需要更高的测试效率,提出一种基于1500标准的并行测试方法.通过对1500中的边界寄存器与指令寄存器的重新设计,使它支持标准中强制规定的串行测试和用户可自定义的并行测试.在以74LS245外壳设计为例,通过Quartus Ⅱ软件进行串并行的外测试仿真以及PSpice软件进行串并行内测试仿真,其结果表明,并行接口测试比串行接口测试提高数倍的效率,而且选择的测试方案较多,用户可以选择较优的测试方案.

关键词：并行测试、串行测试、IP核

所属期刊栏目：32

分类号：TP206(自动化技术及设备)

资助基金：广西研究生教育科研创新计划2010105950804M33

在线出版日期：2012-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：204-207