板级SRAM的内建自测试(BIST)设计

摘要：

板级SRAM的内建自测试的设计,是为了确保板级SRAM的可靠性.考虑到板级SRAM各种故障模型,选择使用March C-SOF算法,其对呆滞故障、跳变故障、开路故障、地址译码器故障和字节间组合故障有100%的故障覆盖率,优化面向"字节"的March C-SOF算法和扩展延时元素后,算法可对SRAM进行字节内组合故障和数据维持力故障测试.同时在只增加少量成本的情况下,使用FPGA构成存储器的BIST控制器,可以满足SRAM的可测性的要求.

关键词：BIST、SRAM故障模型、SRAM测试、March算法

所属期刊栏目：24

分类号：TN45(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：广西科学基金桂科青0135024

在线出版日期：2004-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：60-63