边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现

摘要：

从国内厂家一个实际的内核电路出发,对其进行BIST插入及边界扫描测试的研究;在VHDL描述的基础上,用FPGA实现设计思想,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行,其过程验证了将边界扫描和BIST技术应用于MCM或PCB板功能测试的可行性.

关键词：BIST、边界扫描、FPGA、内核、VHDL

所属期刊栏目：20

分类号：TN45(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家科技预研项目30.2.5.1

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：86-90