饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测

摘要：

采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究.银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合.

关键词：分析化学、X射线荧光法、银饰品、覆盖层厚度、样品总厚度

所属期刊栏目：39

分类号：TS934.3;O657.34

在线出版日期：2019-01-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：185-187