10.3969/j.issn.1004-0676.1999.04.003
Pt-Pd-Rh合金的高温氧化
用TG热重仪测定Pt-Pd-Rh合金的挥发失重曲线,用X光电子能谱(XPS)和溅射剥离技术确定其氧化态表层及次表层组元化学状态和浓度.结果表明合金挥发失重曲线遵循:Δm=K0tn--直线失重规律.合金组元化学态为Pt0、Pd0、Rh0、Rh2O3,次表层为Pt0、Pd0、Rh0、RhO2,Pd0相对富集于表层.讨论了Pd及少量Ru、Ce对Pt-Pd-Rh合金挥发失重曲线和表层结构的影响.
Pt-Pd-Rh合金、表层结构、挥发失重
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TG113.2(金属学与热处理)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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