SSM:x-view密度分析法

摘要：

瑞士Sch(a)rer Schweiter Mettler (SSM)公司在2013上海纺织工业展览会上介绍了x-view密度分析法,这一最新方法可进一步提升SSM公司的络筒工艺.密度分析法的第一部分是利用电子扫描器(XRCT)完成的.X光从不同方向扫描筒子纱,记录数据,由电脑模拟成三维图像,该电脑模型作为原始数据用于最终分析.

机标关键词：密度、分析法、电子扫描器、原始数据、三维图像、络筒工艺、纺织工业、电脑模拟、展览会、新方法、筒子纱、脑模型、提升、上海、瑞士

所属期刊栏目：44

分类号：TQ1;TP2

在线出版日期：2016-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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