多光谱多光轴设备光轴平行性测量装置研制
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3788/OMEI20112812.0032

多光谱多光轴设备光轴平行性测量装置研制

引用
多光谱多光轴设备光轴平行性校准装置用于多传感器小型光电测量设备中各探测单元探测光轴平行性的标定和测量,同时具有提供无穷远目标的功能.本文所研制的多光谱多光轴设备校准装置采用卡塞格林反射式平行光管结构,有效通光口径ψ350 mm,可对可见光系统、中波红外系统、长波红外系统及激光测距系统进行光轴平行性的测量,测量精度优于5〞.

多光谱多光轴系统、光轴平行性、测量仪器

28

TB92(计量学)

2012-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

32-36

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光机电信息

1007-1180

22-1250/TH

28

2011,28(12)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn