193 nm深紫外光刻胶用成膜树脂的研究进展
本文综述了用于193 nm深紫外光刻胶的主体成膜树脂的种类及常用合成单体的研究进展,包括聚(甲基)丙烯酸酯体系、环烯烃-马来酸酐共聚物(COMA)体系、乙烯醚-马来酸酐共聚物(VEMA)体系、降冰片烯加成聚合物体系、环化聚合物体系、有机-无机杂化树脂体系以及光致产酸剂(PAG)接枝聚合物主链型等,并分析了目前关于曝光、分辨率和抗蚀刻性能方面存在的问题及未来的发展方向.
光刻胶、成膜树脂、曝光、分辨率、抗蚀刻性能
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中石化总部项目G3365-2019-Z1912
2020-07-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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